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天津綜科科技有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 粉塵中游離二氧化硅檢測(cè)儀,精密光學(xué)平臺(tái),TJ270-30A紅外分光光度計(jì) |
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主營(yíng)產(chǎn)品： 粉塵中游離二氧化硅檢測(cè)儀,精密光學(xué)平臺(tái),TJ270-30A紅外分光光度計(jì) |
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| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | |||
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RTS-9雙電測(cè)四探針測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：采用了四探針雙電測(cè)組合（亦稱雙位組合）測(cè)量新技術(shù),將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測(cè)量，能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。因而每次測(cè)量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測(cè)量都是對(duì)幾何因素的影響進(jìn)行動(dòng)態(tài)的自動(dòng)修正，因此顯著降低了幾何因素影響，從而提高了測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度 產(chǎn)品型號(hào)：RTS-9 所在地：天津市 更新時(shí)間：2024-12-13 |
參考價(jià):面議 詢價(jià)留言 | ||
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RTS-8型四探針測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。 產(chǎn)品型號(hào)：RTS-8型 所在地：天津市 更新時(shí)間：2024-12-12 |
參考價(jià):面議 詢價(jià)留言 | ||
